Apakah perlawanan ujian ICT?

Lekapan ujian ICT digunakan untuk menyemak keadaan litar terbuka dan pendek komponen individu dan rangkaian litar dalam talian.

Perlawanan ujian ICT adalah singkatan penguji litar bersepadu, yang merupakan pemeriksaan dalam talian dan perlawanan ujian. Ia adalah peralatan ujian standard untuk menguji sifat elektrik dan sambungan elektrik komponen dalam talian untuk memeriksa kecacatan pembuatan dan komponen yang cacat.

Lengkap ujian ICT boleh menjadi fungsi peranti analog dan ujian fungsi logik peranti digital, liputan kesalahan yang tinggi, untuk setiap jenis venir perlu membuat katil jarum khas, katil jarum ini dalam pengeluaran perindustrian dipanggil lekapan ujian ICT.

Ciri -ciri

Jig ujian ICT dengan siling satu sisi dan dua sisi, sejagat untuk memudahkan pertukaran jenis mesin, penggunaan kerusi perrin laras, mudah dikekalkan, penggunaan bahan akrilik & bakelite & fr-4 (atau ditentukan), langsung Pemprosesan fail Gerber untuk menjana fail penggerudian, untuk memastikan ketepatan penggerudian. Program ujian dijana secara automatik, mengelakkan kemungkinan kesilapan input manual yang dikenakan kepada TRI, JET, NEWSYS, Okano, Tescon, Takaya, GWPOSHELL, SRC, CONCORD, PTI816 dan model ICT lain. Jarak pusat antara dua titik diukur atau titik diukur dan lubang pra-digerakkan tidak boleh kurang daripada 0.050 "(1.27mm). Jarak lebih besar daripada 0.100" (2.54mm) lebih disukai, diikuti oleh 0.075 "(1.905mm) Titik perlawanan harus diedarkan sebagai sama rata untuk memastikan bahawa lembaga tidak berubah bentuk setelah ditekan untuk mengelakkan kerosakan pada produk.

Fungsi

Lekapan ujian ICT mampu memeriksa prestasi elektrik komponen dalam talian pada papan perkilangan dan sambungan rangkaian litar. Ia secara kuantitatif dapat mengukur perintang, kapasitor, induktor, kristal dan peranti lain, dan diod ujian, transistor, photocouplers, transformer, relay, penguat operasi, modul bekalan kuasa, dan lain-lain. Oleh kerana semua 74-siri, jenis memori, jenis pemacu yang biasa digunakan, jenis menukar dan IC lain.

Lekapan ujian ICT mengesan kecacatan proses pembuatan dan komponen yang cacat dengan secara langsung menguji prestasi elektrik peranti dalam talian. Komponen boleh diperiksa untuk nilai over-nilai, kegagalan atau kerosakan, dan memori boleh diperiksa untuk kesilapan program. Untuk kategori proses boleh didapati seperti litar pintas solder, ralat penyisipan komponen, penyisipan terbalik, kebocoran, pin warping, pematerian palsu, litar pintas PCB, wayar patah dan kesalahan lain. Kesalahan ujian secara langsung diposisikan dalam komponen tertentu, pin peranti, titik rangkaian, lokasi kesalahan adalah tepat. Pembaikan kesalahan tidak memerlukan pengetahuan yang lebih khusus. Penggunaan ujian automatik yang dikawal oleh program, operasi mudah, ujian cepat dan cepat, masa ujian papan tunggal biasanya beberapa saat hingga puluhan saat.

Ujian dalam talian biasanya merupakan proses ujian pertama dalam pengeluaran, yang boleh bertindak balas tepat pada masanya kepada situasi pembuatan, dan kondusif untuk memproses peningkatan dan peningkatan. Lekapan ujian ICT menguji papan yang rosak, disebabkan oleh penyetempatan kesalahan yang tepat, mudah dibaiki, dan dapat meningkatkan kecekapan pengeluaran dengan ketara dan mengurangkan kos penyelenggaraan. Kerana item ujian khususnya, ia adalah salah satu ujian penting untuk jaminan kualiti pengeluaran besar -besaran.